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首頁-產(chǎn)品中心-體積表面電阻率測試儀-絕緣材料電阻率測試儀-LJD系列材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀

材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品型號(hào):LJD系列
簡要描述:

材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì),無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無須關(guān)注量程和換算單位。

  • 廠家實(shí)力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細(xì)介紹

LJD系列材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀標(biāo)準(zhǔn):
ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法;

LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

一、符合標(biāo)準(zhǔn):

ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法;

GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法;

二、 材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀主機(jī)及夾具參數(shù):


項(xiàng)目/型號(hào)

LJD-B

LJD-A

LJD-C

信號(hào)源

DDS數(shù)字合成信號(hào)

頻率范圍

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信號(hào)源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

采樣精度

11BIT

12BIT

信號(hào)源頻率精度

3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

Q值測量范圍

1~1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q值量程分檔

30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

電感測量范圍

1nH~8.4H,;分辨率0.1

1nH~140mH;分辨率0.1

電感測量誤差

<3%

電容直接測量范圍

1pF~2.5uF

1pF~25uF

調(diào)諧電容誤差分辨率

±1pF或<1%

主電容調(diào)節(jié)范圍

30~540pF

17~240pF

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

自身殘余電感扣除功能

大電容值直接顯示功能

介質(zhì)損耗直讀功能

介質(zhì)損耗系數(shù)精度

萬分之一

介質(zhì)損耗測試范圍

0.0001-1

介電常數(shù)直讀功能

介電常數(shù)精度

千分之一

介電常數(shù)測試范圍

0-1000

LCD顯示參數(shù)

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

準(zhǔn)確度

150pF以下±1pF;150pF以上±1%

Q合格預(yù)置范圍

5~1000聲光提示

環(huán)境溫度

0℃~+40℃

消耗功率

約25W

電源

220V±22V,50Hz±2.5Hz

極片尺寸

38mm/50mm(二選一)

極片間距可調(diào)范圍

≥15mm

材料測試厚度

0.1-10mm

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

夾具損耗正切值

≤4×10-4 (1MHz)

測微桿分辨率

0.001mm

測試極片

材料測量直徑Φ38mm/50mm,厚度可調(diào) ≥ 15mm


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